[发明专利]一种透射谱矩阵和吸光度谱矩阵的测量系统及方法在审

专利信息
申请号: 202211195598.5 申请日: 2022-09-28
公开(公告)号: CN115541512A 公开(公告)日: 2022-12-30
发明(设计)人: 王炜;臧蒙蒙;潘忠保 申请(专利权)人: 江苏科技大学
主分类号: G01N21/31 分类号: G01N21/31;G01N21/59;G06F17/16
代理公司: 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人: 袁姝
地址: 212100 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开一种透射谱矩阵和吸光度谱矩阵的测量系统,包括沿光路依次安置红外光源、准直透镜、干涉系统、起偏系统、样品仓、检偏系统、透镜、探测器和计算机处理系统;干涉系统包括分束器、固定镜和移动镜;其中分束器为立方体构件,沿其周向的四个面中与准直透镜相向的面为面A,自面A沿顺时针方向,依次为面B、面C和面D;在面B处安置固定镜;在面C的处安置移动镜;在面D处安置起偏系统,包括沿光路依次安置偏振器和消光比1/4波片;检偏系统包括沿光路依次安置消光比1/4波片和偏振器;计算机处理系统用于采集偏振信息并计算得到透射谱矩阵和吸光度谱矩阵。本发明还公开了一种透射谱矩阵和吸光度谱矩阵的测量系统的测量方法。
搜索关键词: 一种 透射 矩阵 光度 测量 系统 方法
【主权项】:
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