[发明专利]倒装封装的GaN基LED芯片温度实时监测方法在审

专利信息
申请号: 202211184228.1 申请日: 2022-09-27
公开(公告)号: CN116295845A 公开(公告)日: 2023-06-23
发明(设计)人: 陈凡;孔泽斌;王昆黍;汪波;陈龙 申请(专利权)人: 上海精密计量测试研究所
主分类号: G01J5/00 分类号: G01J5/00;G01J5/02;G01R31/26
代理公司: 上海航天局专利中心 31107 代理人: 许丽
地址: 201109 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种倒装封装的GaN基LED芯片温度实时监测方法,包括:制备倒装封装的GaN基LED器件;积分球透射法测试蓝宝石基片红外透射率;红外相机间接表征YAG:Ce3+荧光胶的红外透射状态;积分球反射计法测试GaN基LED芯片的红外发射率;特定光谱波长的锑化铟红外透射法和瞬态热阻法分别测试GaN基LED芯片温度,验证锑化铟红外透射法的测温准确性;GaN基LED器件接入老化电路,特定光谱波长的锑化铟红外透射法实时监测GaN基LED芯片温度。本发明验证了特定波长红外光在蓝宝石基片和YAG:Ce3+荧光胶的透射性,解决现有技术无法实时监测倒装封装的GaN基LED芯片温度的问题。
搜索关键词: 倒装 封装 gan led 芯片 温度 实时 监测 方法
【主权项】:
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