[发明专利]软件缺陷检测方法、装置、设备和存储介质在审
| 申请号： | 202211152133.1 | 申请日： | 2022-09-21 |
| 公开（公告）号： | CN115509906A | 公开（公告）日： | 2022-12-23 |
| 发明（设计）人： | 刘自强 | 申请（专利权）人： | 中国人民银行数字货币研究所 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人： | 申健 |
| 地址： | 100071 北京市丰*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种软件缺陷检测方法、装置、设备和存储介质，涉及软件技术领域，该软件缺陷检测方法包括：获取待检测的软件的接口配置信息；其中接口配置信息用于指示待检测的软件包括的接口以及每个接口对应的接口参数；对于每个接口，基于接口对应的接口参数执行接口，得到执行接口后的软件状态；根据每个接口执行后的软件状态以及预设检测规范确定待检测的软件是否存在缺陷；其中预设检测规范用于规定在软件合格的情况下软件包括的接口对应的软件状态所遵循的规则；解决了现有的软件缺陷检测方法的准确性较低的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 软件 缺陷 检测 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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