[发明专利]谐振器性能检测时间控制方法及装置、可读存储介质有效
| 申请号： | 202211113397.6 | 申请日： | 2022-09-14 |
| 公开（公告）号： | CN115200810B | 公开（公告）日： | 2022-12-16 |
| 发明（设计）人： | 李凯;施俊生;傅晶星;邱国军;詹超;石佳霖;郭雄伟;林土全 | 申请（专利权）人： | 东晶电子金华有限公司 |
| 主分类号： | G01M3/40 | 分类号： | G01M3/40;G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京友联知识产权代理事务所(普通合伙) 11343 | 代理人： | 薛鹏 |
| 地址： | 321000 浙江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本申请提供了一种谐振器性能检测时间控制方法及装置、可读存储介质，属于谐振器性能检测技术领域，谐振器性能检测时间控制方法包括：通过吹干设备吹干谐振器，通过计算机获取吹干设备开始工作时的第一时点；通过自动测试机测试谐振器是否合格，通过计算机获取自动测试机测试结束时的第四时点；根据第一时点和第四时点，确定谐振器是否需要重新进行压溶液工序。通过本申请的技术方案，根据计算机记录的吹干设备开始工作的时间到自动测试机测试完成的时间来控制压溶液的有效时间内对谐振器的气密性能检测，不需要人工记录，有效保证测试时间的可靠性及准确性，从而确保测试产品的可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 谐振器 性能 检测 时间 控制 方法 装置 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
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