[发明专利]一种RCS近场多站阵列测量装置和方法有效
| 申请号： | 202211112397.4 | 申请日： | 2022-09-14 |
| 公开（公告）号： | CN115184897B | 公开（公告）日： | 2022-12-23 |
| 发明（设计）人： | 诸葛晓栋;许鼎 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | G01S7/41 | 分类号： | G01S7/41;G01S13/89 |
| 代理公司： | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人： | 江亚平;顾炜 |
| 地址： | 100191*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种RCS近场多站阵列测量装置和方法，测控系统控制多通道测量雷达中的发射机通过双极化发射天线阵列对近场距离内的目标进行柱面近场激励，目标散射的电磁波由放置于多角度的双极化接收天线阵列采集，进入多通道测量雷达的接收机，测控系统同时控制转台携带被测目标进行旋转运动，对目标的不同角度进行测量，数据处理系统处理目标和定标体的全角度多站散射数据，经近远场变换和成像反演后获得目标精确RCS电平和空间散射强度分布图像。本发明利用柱面近场激励结合多站阵列和多通道测量系统可在极小的测试场地内快速完成对大尺寸目标RCS的精确测量和成像诊断，大幅缓解目前测试方法在测试场地规模、测试精度和效率上的限制。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 rcs 近场 阵列 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
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