[发明专利]对批量PD芯片的老化测试方法、电路及系统在审
| 申请号： | 202211111616.7 | 申请日： | 2022-09-13 |
| 公开（公告）号： | CN115421026A | 公开（公告）日： | 2022-12-02 |
| 发明（设计）人： | 冯建超;傅焰峰;严杰;刘智航 | 申请（专利权）人： | 武汉光谷信息光电子创新中心有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 武汉智权专利代理事务所(特殊普通合伙) 42225 | 代理人： | 费雅倩 |
| 地址： | 430074 湖北省武汉市东湖*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种对批量PD芯片的老化测试方法、电路及系统，涉及PD芯片测试领域。该方法的步骤包括：分别为每片PD芯片串联至少一块测试采样电阻和一个运算放大器后，为每片PD芯片输出相同的老化电压进行老化测试，测试过程中通过运算放大器来保证每片PD芯片的电压相同，老化测试过程中，实时输出测试数据。本发明在对批量的PD芯片进行老化测试时，能够保证每片PD芯片上的电压相同，进而保证每片PD芯片的老化条件一致，以此来提高测试数据的准确性，保证测试的可靠程度。 | ||
| 搜索关键词： | 批量 pd 芯片 老化 测试 方法 电路 系统 | ||
【主权项】：
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