[发明专利]测试方法、装置、设备、可读存储介质及程序产品在审
| 申请号： | 202211085958.6 | 申请日： | 2022-09-06 |
| 公开（公告）号： | CN116302913A | 公开（公告）日： | 2023-06-23 |
| 发明（设计）人： | 张静 | 申请（专利权）人： | 北京奕斯伟计算技术股份有限公司;广州全盛威信息技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京市立方律师事务所 11330 | 代理人： | 张筱宁 |
| 地址： | 100176 北京市北京经济技*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请实施例提供了一种测试方法、装置、设备、可读存储介质及程序产品，该方法包括：获取至少两个激励程序；基于至少两个激励程序，确定自动化回归测试脚本；基于至少两个激励程序之间的优先级，通过自动化回归测试脚本，对至少两个激励程序对应的目标芯片的第一代码程序进行仿真，并确定至少两个激励程序针对第一代码程序的第一代码覆盖率；若第一代码覆盖率小于预设代码覆盖率阈值，则基于第一代码覆盖率和预设代码覆盖率阈值，进行相应回归处理，确定新第一代码覆盖率，新第一代码覆盖率大于或等于预设代码覆盖率阈值；如此，自动快速提高了激励程序针对目标芯片的第一代码程序的代码覆盖率。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 方法 装置 设备 可读 存储 介质 程序 产品 | ||
【主权项】：
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