[发明专利]测试方法、装置、设备、可读存储介质及程序产品

说明书

本申请实施例提供了一种测试方法、装置、设备、可读存储介质及程序产品，该方法包括：获取至少两个激励程序；基于至少两个激励程序，确定自动化回归测试脚本；基于至少两个激励程序之间的优先级，通过自动化回归测试脚本，对至少两个激励程序对应的目标芯片的第一代码程序进行仿真，并确定至少两个激励程序针对第一代码程序的第一代码覆盖率；若第一代码覆盖率小于预设代码覆盖率阈值，则基于第一代码覆盖率和预设代码覆盖率阈值，进行相应回归处理，确定新第一代码覆盖率，新第一代码覆盖率大于或等于预设代码覆盖率阈值；如此，自动快速提高了激励程序针对目标芯片的第一代码程序的代码覆盖率。

技术领域

本申请涉及计算机技术领域，具体而言，本申请涉及一种测试方法、装置、设备、可读存储介质及程序产品。

背景技术

现有技术中，芯片验证伴随着大量的测试用例(test case)，即激励程序或激励代码。其中，芯片验证例如大型的IP(Intellectual Property，知识产权)核验证或SOC(System On Chip，片上系统)验证。在芯片验证过程中，用户人工对大量激励程序进行逐一编译、仿真，及收集大量激励程序针对芯片的代码程序的代码覆盖率。如此，会造成大量人力和时间的浪费，而且激励程序针对芯片的代码程序的代码覆盖率较低。

发明内容

本申请针对现有的方式的缺点，提出一种测试方法、装置、设备、计算机可读存储介质及计算机程序产品，用于解决如何快速提高激励程序针对芯片的代码程序的代码覆盖率的问题。

第一方面，本申请提供了一种测试方法，包括：

获取至少两个激励程序；

基于至少两个激励程序，确定自动化回归测试脚本；

基于至少两个激励程序之间的优先级，通过自动化回归测试脚本，对至少两个激励程序对应的目标芯片的第一代码程序进行仿真，并确定至少两个激励程序针对第一代码程序的第一代码覆盖率；

若第一代码覆盖率小于预设代码覆盖率阈值，则基于第一代码覆盖率和预设代码覆盖率阈值，进行相应回归处理，确定新第一代码覆盖率，新第一代码覆盖率大于或等于预设代码覆盖率阈值。

在一个实施例中，在基于至少两个激励程序之间的优先级，通过自动化回归测试脚本，对至少两个激励程序对应的目标芯片的第一代码程序进行仿真，并确定至少两个激励程序针对第一代码程序的第一代码覆盖率之前，还包括：

确定至少两个激励程序中每个激励程序对应的文本文件的指令数量；

基于各文本文件的指令数量，确定至少两个激励程序之间的优先级。

在一个实施例中，基于至少两个激励程序之间的优先级，通过自动化回归测试脚本，对至少两个激励程序对应的目标芯片的第一代码程序进行仿真，并确定至少两个激励程序针对第一代码程序的第一代码覆盖率，包括：

通过自动化回归测试脚本，基于至少两个激励程序之间的优先级从大到小的顺序，依次对至少两个激励程序对应的目标芯片的第一代码程序进行仿真，并确定至少两个激励程序中每个激励程序针对第一代码程序的第一子代码覆盖率；

基于各第一子代码覆盖率，确定至少两个激励程序针对第一代码程序的第一代码覆盖率。

在一个实施例中，基于各第一子代码覆盖率，确定至少两个激励程序针对第一代码程序的第一代码覆盖率，包括：

创建覆盖率整合脚本；

通过覆盖率整合脚本，将各第一子代码覆盖率进行整合，得到至少两个激励程序针对第一代码程序的代码覆盖率报告，代码覆盖率报告包括至少两个激励程序针对第一代码程序的第一代码覆盖率。

在一个实施例中，基于第一代码覆盖率和预设代码覆盖率阈值，进行相应回归处理，确定新第一代码覆盖率，包括：