[发明专利]集成电路的验证方法及处理系统在审
| 申请号： | 202211085175.8 | 申请日： | 2022-09-06 |
| 公开（公告）号： | CN116298830A | 公开（公告）日： | 2023-06-23 |
| 发明（设计）人： | 李露曦;程蒙;王安;苗倩倩;闫强 | 申请（专利权）人： | 联芸科技（杭州）股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/317 | 分类号： | G01R31/317;G06F30/33 |
| 代理公司： | 北京成创同维知识产权代理有限公司 11449 | 代理人： | 杨思雨 |
| 地址： | 310051 浙江省杭州市滨江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本公开提供了一种集成电路的验证方法、处理系统以及计算机可读存储介质。集成电路包括多个模块，其验证方法包括：对于集成电路的每个模块，基于与该模块相对应的信号值变化数据仿真获得多个仿真窗口分别对应的功耗值；根据各个仿真窗口对应的功耗值的大小，选择该模块的信号值变化数据中的关键数据；以及基于关键数据运行集成电路的顶层仿真，以获得电压降仿真结果，电压降仿真结果用于与签核标准相比较以确认是否验证通过。本公开实施例可高效、准确、低成本地实现对电压降的分析验证。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 验证 方法 处理 系统 | ||
【主权项】：
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