[发明专利]一种轴承内圈导电性能测试机构有效

专利信息
申请号: 202211075564.2 申请日: 2022-09-05
公开(公告)号: CN115144682B 公开(公告)日: 2022-11-18
发明(设计)人: 刘晓雪 申请(专利权)人: 深圳嘉利祥精工股份有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R1/04;G01M13/04
代理公司: 深圳市锟剑恒富知识产权代理有限公司 44769 代理人: 黄晓笛
地址: 518000 广东省深圳市宝安*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种轴承内圈导电性能测试机构,包括底板,所述底板的顶部固定有用于安装轴承的固定座,且轴承外圈固定在固定座上的通孔内;还包括固定在轴承内圈内的两个可转动的转轴,且两个所述转轴之间互不接触,位于所述固定座两侧的底板顶部均固定有限位块,两个所述限位块上均开设有可供转轴穿过且转动的孔;两个所述限位块的顶部均开设有通孔,且两个通孔内均滑动安装有可移动调节的导电块。本发明通过结构之间的配合,利用导电块和转轴对轴承内圈进行电路连接,以此来对其导电性能进行检测,通过静止连接的方式,避免了导线直接连接在轴承内圈上而造成绕线的现象,便于电路的布置和连通。
搜索关键词: 一种 轴承 内圈 导电 性能 测试 机构
【主权项】:
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