[发明专利]一种基于投影特征匹配的纳米CT几何参数自标定方法在审
| 申请号： | 202211062378.5 | 申请日： | 2022-08-31 |
| 公开（公告）号： | CN115482331A | 公开（公告）日： | 2022-12-16 |
| 发明（设计）人： | 李磊;杨双站;韩玉;闫镔;席晓琦;朱林林;刘梦楠;谭思宇 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军战略支援部队信息工程大学 |
| 主分类号： | G06T17/00 | 分类号： | G06T17/00;G06T5/00;G06T5/40 |
| 代理公司： | 郑州大通专利商标代理有限公司 41111 | 代理人： | 刘莹莹 |
| 地址： | 450000 河*** | 国省代码： | 河南;41 |
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| 摘要： | 本发明提供一种基于投影特征匹配的纳米CT几何参数自标定方法。该方法包括：步骤1：利用纳米CT系统扫描样品并从扫描数据中读取两张镜像投影图像，对两张投影图像进行预处理；步骤2：设置特征点提取阈值，对两张投影图像进行特征点提取、匹配与筛选，记录筛选出的所有优质匹配点的坐标；步骤3：根据两张投影图像所有优质匹配点的中点坐标拟合出旋转轴偏转角及旋转轴横向偏移两个参数；步骤4：对扫描数据中所有角度下的投影图像通过仿射变换进行旋转轴偏转角和旋转轴横线偏移两个参数的标定，然后重建得到无几何伪影的三维体数据。本发明通过优质匹配特征点的坐标拟合参数具有更好的抗噪声性能。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 投影 特征 匹配 纳米 ct 几何 参数 标定 方法 | ||
【主权项】：
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