[发明专利]可同时测量颗粒粒径与体积浓度的背光成像系统和方法在审
| 申请号： | 202211016706.8 | 申请日： | 2022-08-24 |
| 公开（公告）号： | CN115096768A | 公开（公告）日： | 2022-09-23 |
| 发明（设计）人： | 杨彧;韩东睿;李博通;马海波;张健;王丽婷 | 申请（专利权）人： | 浙江省水利水电勘测设计院有限责任公司 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02;G01N15/06;G06T7/00;G06T7/11;G06T7/13;G06T7/80 |
| 代理公司： | 浙江纳祺律师事务所 33257 | 代理人： | 姜雯 |
| 地址： | 310002 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了可同时测量颗粒粒径与体积浓度的背光成像系统和方法。本发明系统包括支持系统、照明系统、成像系统和校准系统；支持系统为成像系统和照明系统的连接和固定提供支持；照明系统提供光源并将光均匀地传输至成像系统；成像系统用于获取水体环境中不透明颗粒粒径和体积浓度数据；校准系统保证成像系统获取数据的准确性。本发明方法包括：S1,检查和调整支持系统；S2，开启照明系统；S3，准备成像条件；S4，校准系统标定；S5，识别颗粒的数据处理；S6，选择聚焦颗粒的数据处理；S7，建立聚焦参数模型并进行验证。本发明针对随粒径变化的自适应采样体积，提供了无偏差体积浓度估计；对于高浓度测量，采用颗粒的泊松分布来校正粒子重叠效应。 | ||
| 搜索关键词： | 同时 测量 颗粒 粒径 体积 浓度 背光 成像 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于浙江省水利水电勘测设计院有限责任公司，未经浙江省水利水电勘测设计院有限责任公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202211016706.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种网络非连续发送和接收的方法和设备
- 下一篇：核电用空调压缩机
