[发明专利]高精密比较仪装置在审
| 申请号： | 202211005530.6 | 申请日： | 2022-08-22 |
| 公开（公告）号： | CN115388738A | 公开（公告）日： | 2022-11-25 |
| 发明（设计）人： | 刘泽贵;何中林;杨波;杨建林;张开平 | 申请（专利权）人： | 成都润驰精密电子有限公司 |
| 主分类号： | G01B5/00 | 分类号： | G01B5/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 610000 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明提供一种高精密比较仪装置，包括基座和设置在所述基座一侧端面顶部的立柱；基座的顶部端面设有杠杆，杠杆上设有杠杆支座、拉紧螺钉及弹簧螺塞；基座的上方设有千分表，千分表通过千分表座固定在基座的上端面，千分表底部的测量平表头位于所述杠杆的上方；立柱的侧端面上接有上V行滑块，上V行滑块的侧端面设有上测量头，上测量头的底部设有标规，标规的下方接有下测量头，下测量头的底部接有下V行滑块和滚珠弹道结构。该装置通过切换V形下测量头及平面下测量头可对比精密测量，范围外圆尺寸￠1‑￠27的零件及平面零件0‑60mm的零件。可通过标规快速精准的检测在制精密零件成品零件的尺寸及形位尺寸，从而及大的提高了生产效率和零件的检测精度。 | ||
| 搜索关键词： | 精密 比较仪 装置 | ||
【主权项】：
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