[发明专利]高精密比较仪装置

说明书

本发明提供一种高精密比较仪装置，包括基座和设置在所述基座一侧端面顶部的立柱；基座的顶部端面设有杠杆，杠杆上设有杠杆支座、拉紧螺钉及弹簧螺塞；基座的上方设有千分表，千分表通过千分表座固定在基座的上端面，千分表底部的测量平表头位于所述杠杆的上方；立柱的侧端面上接有上V行滑块，上V行滑块的侧端面设有上测量头，上测量头的底部设有标规，标规的下方接有下测量头，下测量头的底部接有下V行滑块和滚珠弹道结构。该装置通过切换V形下测量头及平面下测量头可对比精密测量，范围外圆尺寸￠1‑￠27的零件及平面零件0‑60mm的零件。可通过标规快速精准的检测在制精密零件成品零件的尺寸及形位尺寸，从而及大的提高了生产效率和零件的检测精度。

技术领域

本发明具体涉及一种高精密比较仪装置。

背景技术

原有的检测技术多采用千分尺测量或千分表对比测量与三坐标检测，这种方式误差较大无法保证加工精准度，目前很多零件配精度要求都在0.4um，上述方式无法达到相应的精度要求，加工时无高精度的量具保障精度，因而提出一种高精密比较仪装置以解决这一问题。

发明内容

本发明的目的在于针对现有技术的不足，提供一种高精密比较仪装置，该高精密比较仪装置可以很好地解决上述问题。

为达到上述要求，本发明采取的技术方案是：提供一种高精密比较仪装置，该高精密比较仪装置包括基座和设置在所述基座一侧端面顶部的立柱；基座的顶部端面设有杠杆，所述杠杆上设有杠杆支座、拉紧螺钉及弹簧螺塞；基座的上方设有千分表，所述千分表通过千分表座固定在所述基座的上端面，所述千分表底部的测量平表头位于所述杠杆的上方；立柱的侧端面上接有上V行滑块，所述上V行滑块的侧端面设有上测量头，所述上测量头的底部设有标规，所述标规的下方接有下测量头，所述下测量头的底部接有下V行滑块和滚珠弹道结构。

该高精密比较仪装置具有的优点如下：

该装置通过切换V形下测量头及平面下测量头可对比精密测量，范围外圆尺寸￠1-￠27的零件及平面零件0-60mm的零件。可通过标规快速精准的检测在制精密零件成品零件的尺寸及形位尺寸，从而及大的提高了生产效率和零件的检测精度。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，在这些附图中使用相同的参考标号来表示相同或相似的部分，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：

图1示意性地示出了根据本申请一个实施例的高精密比较仪装置进行圆柱测量时的结构示意图。

图2示意性地示出了根据本申请一个实施例的高精密比较仪装置进行平面测量时的结构示意图。

其中：1、立柱；2、基座；3、下V行滑块；4、滚珠弹道结构；5、下测量头；6、标规；7、上测量头；8、上V行滑块；9、拉紧螺钉；10、上把手；11、弹簧；12、下把手；13、杠杆；14、杠杆支座；15、拉紧螺钉；16、弹簧螺塞；17、测量平表头；18、千分表座；19、千分表。

具体实施方式

为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，以下结合附图及具体实施例，对本申请作进一步地详细说明。

在以下描述中，对“一个实施例”、“实施例”、“一个示例”、“示例”等等的引用表明如此描述的实施例或示例可以包括特定特征、结构、特性、性质、元素或限度，但并非每个实施例或示例都必然包括特定特征、结构、特性、性质、元素或限度。另外，重复使用短语“根据本申请的一个实施例”虽然有可能是指代相同实施例，但并非必然指代相同的实施例。

为简单起见，以下描述中省略了本领域技术人员公知的某些技术特征。