[发明专利]一种目标辐射阵列电磁兼容测试方法在审
| 申请号： | 202210998288.0 | 申请日： | 2022-08-19 |
| 公开（公告）号： | CN115524552A | 公开（公告）日： | 2022-12-27 |
| 发明（设计）人： | 朱骏;高成;韩明波;李挺;王杰;孙玉光;高伟 | 申请（专利权）人： | 北京华清瑞达科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 天津易企创知识产权代理事务所(普通合伙) 12242 | 代理人： | 魏凤程 |
| 地址： | 100000 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种目标辐射阵列电磁兼容测试方法，包括如下步骤：建立电磁兼容测试暗室，将待测试的目标辐射阵列天线设于测试暗室内；发射状态测试，在暗室内设置多个接收设备，将天线工作在发射状态，不加任何环境干扰，获取测试曲线并分析，确定天线的辐射方向、范围以及强度参数；天线处于发射状态时，对暗室施加辐射电磁干扰，再次通过接收设备获取此时的天线的辐射方向、范围以及强度参数；对比两次获取的接收参数，确定干扰差值和目标辐射阵列天线的抗电磁干扰等级。确定目标辐射阵列电磁兼容性，测试方法简便易操作。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 目标 辐射 阵列 电磁 兼容 测试 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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