[发明专利]一种目标辐射阵列电磁兼容测试方法

说明书

本发明公开了一种目标辐射阵列电磁兼容测试方法，包括如下步骤：建立电磁兼容测试暗室，将待测试的目标辐射阵列天线设于测试暗室内；发射状态测试，在暗室内设置多个接收设备，将天线工作在发射状态，不加任何环境干扰，获取测试曲线并分析，确定天线的辐射方向、范围以及强度参数；天线处于发射状态时，对暗室施加辐射电磁干扰，再次通过接收设备获取此时的天线的辐射方向、范围以及强度参数；对比两次获取的接收参数，确定干扰差值和目标辐射阵列天线的抗电磁干扰等级。确定目标辐射阵列电磁兼容性，测试方法简便易操作。

技术领域

本发明涉及电磁兼容测试技术领域，具体为一种目标辐射阵列电磁兼容测试方法。

背景技术

在制导系统、系统参数调试与验证、飞行试验等过程中，信号的发射和接收精度需要较高的要求，目标辐射阵列天线在信号发射传输中会受到环境电磁干扰的影响，而目前的目标辐射阵列天线的电磁兼容性能未得到有效的测试和展现，针对上述问题，发明人提出一种目标辐射阵列电磁兼容测试方法用于解决上述问题。

发明内容

为了解决目标辐射阵列天线在信号发射传输中会受到环境电磁干扰的影响，而目前的目标辐射阵列天线的电磁兼容性能未得到有效的测试和展现的问题；本发明的目的在于提供一种目标辐射阵列电磁兼容测试方法。

为解决上述技术问题，本发明采用如下技术方案：一种目标辐射阵列电磁兼容测试方法，包括如下步骤：

S1、建立电磁兼容测试暗室，将待测试的目标辐射阵列天线设于测试暗室内；

S2、发射状态测试，在暗室内设置多个接收设备，将天线工作在发射状态，不加任何环境干扰，获取测试曲线并分析，确定天线的辐射方向、范围以及强度参数；

S3、天线处于发射状态时，对暗室施加辐射电磁干扰，再次通过接收设备获取此时的天线的辐射方向、范围以及强度参数；

S4、对比两次获取的接收参数，确定干扰差值和目标辐射阵列天线的抗电磁干扰等级。

优选的一种实施案例，所述电磁兼容测试暗室为EMC实验室，并将测试区域进行抽真空，去除环境因素干扰。

优选的一种实施案例，步骤S2和步骤S3中，所述发射状态为天线的RE102辐射发射量值范围为30MHz-1GHz，不随功耗的变化而有超出阈值的变化的状态，且步骤S2和步骤S3中的发射状态辐射发射量相同。

优选的一种实施案例，步骤S2和步骤S3中，所述接收装置为距天线辐射发射位置以0.3m-2m为半径，成环形架设辐射强度探头，多个辐射强度探头沿环形均匀分布，并包围天线。

优选的一种实施案例，步骤S3中，辐射电磁干扰通过信号源、可调衰减器、功率放大器以及辐射阵列构成的发射模拟器，将电磁信号通过放大处理后对外发射形成电磁干扰，辐射限值为6-70dBμV/m。

优选的一种实施案例，步骤S4中，对比两次获取的接收参数的方法为：将未施加电磁干扰时多个接收装置接收到的信号辐射强度与施加电磁干扰后接收到的电磁干扰强度进行对比，对比内容包括同一接收装置接收到的辐射强度大小变化，以及两次实验中，成环形分布的多个接收装置中，最大接收强度的装置位置变化。

优选的一种实施案例，根据同一接收装置接收到的辐射强度大小变化，取两次实验中接收强度的最大值和最小值进行分别对比，从而根据强度偏差确定电磁干扰对天线信号的辐射强度的影响，确定天线信号辐射强度的抗干扰性能。

优选的一种实施案例，根据最大接收强度的装置位置变化，从而确定两次实验中，信号传输路径受到电磁干扰后发生的偏转影响，并再次基础上，通过再次在不同位置发射电磁干扰确定天线信号发射路径的抗干扰性能。

与现有技术相比，本发明的有益效果在于：