[发明专利]应用于ATE测试的芯片内部的TC模块和集成芯片在审
| 申请号： | 202210962866.5 | 申请日： | 2022-08-11 |
| 公开（公告）号： | CN115327344A | 公开（公告）日： | 2022-11-11 |
| 发明（设计）人： | 郑凯磊;陈志凯 | 申请（专利权）人： | 北京特纳飞电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人： | 孙宝海 |
| 地址： | 100080 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开提供一种应用于ATE测试的芯片内部的TC模块和集成芯片，其中，应用于ATE测试的芯片内部的TC模块包括：逻辑控制电路，用于将指定测试指令通过本地的AHB master协议转换为测试程序；JTAG接口，连接至逻辑控制电路的输入端，用于接收基于JTAG协议传输的指定测试指令，并将指定测试指令传输至输入端；AHB总线接口，连接至逻辑控制电路的输出端，AHB总线接口还连接至芯片的总线矩阵，用于将指定测试程序发送至总线矩阵进行测试。通过本公开实施例，降低了ATE测试的时间支出，另外，也实现了专用测试指令对芯片的高效测试，进一步地提升了芯片测试的可靠性和效率。 | ||
| 搜索关键词： | 应用于 ate 测试 芯片 内部 tc 模块 集成 | ||
【主权项】：
暂无信息
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