[发明专利]芯片的测试方法在审
| 申请号： | 202210946707.6 | 申请日： | 2022-08-08 |
| 公开（公告）号： | CN115453309A | 公开（公告）日： | 2022-12-09 |
| 发明（设计）人： | 李新强;曾泉;万聪颖;苏鹏;何海平 | 申请（专利权）人： | 天芯互联科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01D9/00 |
| 代理公司： | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人： | 黎坚怡 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种芯片的测试方法，其中，芯片的测试方法包括：获取到多个芯片，并将各芯片对应装载到测试板的测试插座上；基于测试板上的多个测试插座生成对应的第一文件；以及基于装载到测试板上的芯片的数量生成对应的第二文件；获取到测试板上的多个测试插座的插座数据，将插座数据更新至第一文件中；通过测试板对各芯片进行预测试，得到各芯片的预测试数据，将预测试数据更新至第二文件中；对更新后的第一文件以及第二文件进行存储。通过上述方式，本发明能够通过第一文件与第二文件快速调取记录分析异常，有助于芯片测试异常时，异常问题的分析解决。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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