[发明专利]铁矿石XRF分析用玻璃片的制备及测量结果的校正方法在审

专利信息
申请号: 202210945985.X 申请日: 2022-08-08
公开(公告)号: CN115452871A 公开(公告)日: 2022-12-09
发明(设计)人: 周双清;陈胜;齐郁;徐建平 申请(专利权)人: 武汉科技大学;大冶特殊钢有限公司
主分类号: G01N23/2202 分类号: G01N23/2202;G01N23/223
代理公司: 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 代理人: 张火春
地址: 430081 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明涉及一种铁矿石XRF分析用玻璃片的制备及测量结果的校正方法。其技术方案是:称取0.45~0.5g被测样品(精确到0.0001g)和0.9~1.0g碳酸锂,混匀,将得到的混合物移至钴内标四硼酸锂坩埚中,加脱模剂于混合物上;再置于低温电炉中,在490~670℃分四段预氧化,然后转移到盛有硼酸的铂金坩埚中;再移到已升温至1050℃熔融炉中熔融,取出冷却,称量铂金坩埚及其中熔块的质量(精确到0.0001g)。最后根据校准曲线中标准样品玻璃片的平均质量msb和标准样品的称样量mst,得到校正系数和被测组分的质量百分数。本发明分析速度快、称量速度快和无稀释误差。
搜索关键词: 铁矿石 xrf 分析 玻璃片 制备 测量 结果 校正 方法
【主权项】:
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