[发明专利]基于图像拼接的全局变形测量方法和系统在审

专利信息
申请号: 202210933752.8 申请日: 2022-08-04
公开(公告)号: CN115272080A 公开(公告)日: 2022-11-01
发明(设计)人: 何霁;任恩圳 申请(专利权)人: 上海交通大学
主分类号: G06T3/40 分类号: G06T3/40;G06T17/20;G06T7/80;G06V10/75
代理公司: 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 代理人: 胡晶
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明提供了一种基于图像拼接的全局变形测量方法和系统,包括:步骤S1:在待测物体周围设置相机,对相机内外参数包括畸变参数,进行计算并校正;步骤S2:标定每个相机的DLT参数,实现自动合并所有相机的数据到同一坐标系;步骤S3:对获取的图像进行匹配,并根据感兴趣区域ROI内的点生成三角形网格;步骤S4:对于每组相机对,在同一坐标系下进行三维重建,并通过启发式算法对不同相机对获得的点云进行拼接生成全局点云;步骤S5:根据不同时刻的全局点云中三角形网格的顶点三维坐标导出感兴趣量的场,进行可视化展示。本发明通过对多个相机对获得的点云进行拼接处理,获取全局点云并进行相应后处理,实现了大视场下的应变测量。
搜索关键词: 基于 图像 拼接 全局 变形 测量方法 系统
【主权项】:
暂无信息
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