[发明专利]字线电阻测试方法、装置、设备、存储介质及程序产品在审
| 申请号： | 202210930434.6 | 申请日： | 2022-08-03 |
| 公开（公告）号： | CN115273957A | 公开（公告）日： | 2022-11-01 |
| 发明（设计）人： | 周成功;柯卫宝;李想;汪锡;黄建钦 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/50 | 分类号： | G11C29/50;G11C29/18 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 杨文娟;刘芳 |
| 地址： | 230601 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本申请实施例提供一种字线电阻测试方法、装置、设备、存储介质及程序产品，该字线电阻测试方法包括：向与待测试字线连接的存储单元中写入第一数据，并在所述待测试字线激活预设时间后，读取所述存储单元中存储的数据，其中，所述预设时间小于所述存储单元对应的标准行地址激活时间；根据所述存储单元中存储的数据，确定所述待测试字线的电阻是否合格。在向存储单元写入数据后，通过较短的行地址激活有效时间进行存储数据的读取，基于所读取的数据与所写入数据是否一致，实现对字线电阻的测试，测试成本低、准确度高，通过字线电阻测试，有效避免了DRAM因字线电阻偏大而导致读写失效。 | ||
| 搜索关键词： | 电阻 测试 方法 装置 设备 存储 介质 程序 产品 | ||
【主权项】：
暂无信息
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