[发明专利]一种痕量As(III)重金属的电化学检测方法

摘要

本发明涉及一种痕量As(III)重金属的电化学检测方法，属于重金属离子检测技术领域。本发明以离子印迹聚合膜修饰的玻碳电极为工作电极，Ag/AgCl电极为参比电极，铂柱电极为对电极，利用示差脉冲伏安法对不同As(III)浓度的缓冲溶液B进行测定，绘制示差脉冲曲线，以峰电流和As(III)浓度关系绘制得到标准曲线；其中离子印迹聚合膜修饰的玻碳电极为IIM‑Nano‑Au修饰电极，缓冲溶液B中As(III)浓度为9.9×10‑12～6.1×10‑5mol/L；将离子印迹聚合膜修饰的玻碳电极放入盛有待测As(III)重金属样品液的测量池中，采用示差脉冲伏安法以相同的条件测定待测As(III)重金属样品液，绘制示差脉冲曲线，得到As(III)的峰电流，将As(III)的峰电流代入标准曲线得到待测As(III)重金属样品液中As(III)重金属浓度。本发明可直接采用电化学测定法测定As(Ⅲ)含量。