[发明专利]一种检测内存数据故障的方法及其相关设备在审
| 申请号： | 202210912646.1 | 申请日： | 2022-07-30 |
| 公开（公告）号： | CN115421948A | 公开（公告）日： | 2022-12-02 |
| 发明（设计）人： | 张丽达 | 申请（专利权）人： | 超聚变数字技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/07 | 分类号： | G06F11/07 |
| 代理公司： | 深圳市深佳知识产权代理事务所(普通合伙) 44285 | 代理人： | 万欣慰 |
| 地址： | 450046 河南省郑州市郑*** | 国省代码： | 河南;41 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种检测内存数据故障的方法及其相关设备，应用于存储领域中。该方法包括：在巡检周期内检测第一内存空间内存储的数据是否发生故障，巡检周期为检测DDR5内存的周期，第一内存空间属于DDR5内存，数据包括N位数据位，N大于等于1。在巡检过程中，当检测到有数据存在故障时，从内存模式寄存器获取故障的数据对应的故障信息，故障信息至少包括故障的数据所对应的内存地址，其中，内存模式寄存器位于DDR5内存内，内存模式寄存器用于保存第一内存空间内存储的数据与内存地址的映射关系，且向OS或BMC发送故障信息。在本申请中，实现了精确的定位发生故障的位置感知DDR5内存存储的数据发生故障，且无需增加额外的硬件电路，减少了成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 检测 内存 数据 故障 方法 及其 相关 设备 | ||
【主权项】：
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