[发明专利]一种检测内存数据故障的方法及其相关设备

说明书

本申请公开了一种检测内存数据故障的方法及其相关设备，应用于存储领域中。该方法包括：在巡检周期内检测第一内存空间内存储的数据是否发生故障，巡检周期为检测DDR5内存的周期，第一内存空间属于DDR5内存，数据包括N位数据位，N大于等于1。在巡检过程中，当检测到有数据存在故障时，从内存模式寄存器获取故障的数据对应的故障信息，故障信息至少包括故障的数据所对应的内存地址，其中，内存模式寄存器位于DDR5内存内，内存模式寄存器用于保存第一内存空间内存储的数据与内存地址的映射关系，且向OS或BMC发送故障信息。在本申请中，实现了精确的定位发生故障的位置感知DDR5内存存储的数据发生故障，且无需增加额外的硬件电路，减少了成本。

技术领域

本申请实施例涉及存储领域，尤其涉及一种检测内存数据故障的方法及其相关设备。

背景技术

随着技术产业算力的飞速发展，当前内存的容量越来越大，对于双倍速率同步动态随机存储器(double data rate synchronous dynamic random access memory，DDRSDRAM)即DDR面对更高的容量、更快的速度及更小的工艺技术，内存阵列出现单位错误的可能性会增加，故障率也越高。

DDR5是通过on-die误差校正码(error correcting code，ECC)降低内存芯片的缺陷率，保障高速和高密度下的数据准确性。具体通过配备额外的ECC存储器在数据发送到中央处理器(central processing unit，CPU)之前进行检测和纠错，但是由于系统没有额外的总线传输ECC数据，因此系统无法感知on-die ECC检测到的ECC错误，即系统无法感知内存发生故障。而当前一种技术是通过增加硬件电路来实现在ECC错误超过阈值后，向内存控制器提供报警信号，使得系统感知内存发生故障。但是，通过报警信号只能感知到故障发生，无法精准定位故障的精确位置，且通过硬件电路实现增加了成本。

发明内容

本申请提供了一种检测内存数据故障的方法及其相关设备，应用于中DDR5内存领域。能精准定位内存中数据故障的严重程度以及精确位置，且无需增加额外的硬件电路，减少了成本，适用于更多的应用场景。

第一方面，提供了一种检测内存数据故障的方法，该方法包括。

在巡检周期内检测第一内存空间内存储的数据是否发生故障，该巡检周期为检测DDR5内存的周期，该第一内存空间属于DDR5内存，其数据包括N位数据位，N大于等于1。

且在巡检过程中，当检测到有数据存在故障时，从内存模式寄存器获取该故障的数据对应的故障信息，其故障信息至少包括该故障的数据所对应的内存地址，其中，内存模式寄存器用于管理DDR5内存，且该内存模式寄存器用于保存待巡检的数据与内存地址的映射关系。

然后，向操作系统(operating system，OS)或基板管理控制器(baseboardmanagement controller，BMC)发送所述故障信息。

在本申请的实施方式中，在巡检周期内确定第一内存空间中的至少一个数据发生故障时，获取至少包括故障的数据的内存地址的故障信息并发送给OS或BMC，能精准定位内存中数据故障的严重程度以及精确位置，且无需增加额外的硬件电路，减少了成本，适用于更多的应用场景。

第一方面的一种可能的实现方式中，在基本输入输出系统(basic input outputsystem，BIOS)或BMC中配置巡检周期的值以及第一内存空间，且第一内存空间小于或等于DDR5内存的数据存储空间。

在本申请的实施方式中，通过多种方式配置第一巡检周期的值以及第一内存空间，增加了方案的应用场景，提升了方案的可选择性。

第一方面的一种可能的实现方式中，当检测到第一数据存在故障时，停止巡检，并且从内存模式寄存器至少获取第一数据对应的第一内存地址，该第一数据为前述第一内存空间中存储的数据。