[发明专利]DFT测试电路、测试系统以及测试方法有效
| 申请号： | 202210899373.1 | 申请日： | 2022-07-28 |
| 公开（公告）号： | CN115236493B | 公开（公告）日： | 2023-07-21 |
| 发明（设计）人： | 张浩浩 | 申请（专利权）人： | 摩尔线程智能科技（北京）有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/3185 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 江鹏飞;陈岚 |
| 地址： | 100080 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请提供了一种DFT测试电路、测试系统和测试方法，用于对芯片的待测逻辑电路进行测试。该DFT测试电路包括：第一时钟门控单元、输入寄存模块、独热解码电路、逻辑模块、以及多个第二时钟门控单元。第一时钟门控单元的时钟信号端与输入寄存模块的时钟输入端电连接，输入寄存模块的输出端与独热解码电路的输入端电连接，独热解码电路的输出端与逻辑模块的输入端电连接，逻辑模块的输出端与多个第二时钟门控单元的测试使能端电连接。本申请提供的DFT测试电路，通过引入独热解码电路结构，在扫描测试的捕获阶段，每次仅打开某一组时钟门控单元，明显降低了同时开启的时钟门控单元的个数，从而降低测试功耗。 | ||
| 搜索关键词： | dft 测试 电路 系统 以及 方法 | ||
【主权项】：
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