[发明专利]一种三远点平面度检测方法在审

专利信息
申请号: 202210854528.X 申请日: 2022-07-20
公开(公告)号: CN115355869A 公开(公告)日: 2022-11-18
发明(设计)人: 阮超;张云诏;曹壹傑;高锦焜;孛正军;张也;沈昕 申请(专利权)人: 成都飞机工业(集团)有限责任公司
主分类号: G01B21/30 分类号: G01B21/30;G01B21/32
代理公司: 四川力久律师事务所 51221 代理人: 方清
地址: 610000 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明涉及平面度检测技术领域,具体涉及一种三远点平面度检测方法,包括如下步骤:S1:使用接触式采点设备在工件的待测量面上测量不少于4个点,记录所有点的坐标数据;S2:沿工件的长度方向选择最远的两点建立参考直线,选择沿工件的宽度方向距离所述参考直线最远的点,以该点和所述参考直线建立参考平面;S3:计算各测量点到所述参考平面的距离。本发明在测量点中沿工件的长度方向选择最远的两点作为参考直线,沿工件宽度方向选择距离该参考直线最远的点,以上述三点建立参考平面来计算各测量点的平面度偏差,使得测量点更能反应工件整体的倾斜、翘曲等现象,便于指导工件的后续加工。
搜索关键词: 一种 三远点 平面 检测 方法
【主权项】:
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