[发明专利]光学耦合设备及其胶形检测方法在审
| 申请号： | 202210835862.0 | 申请日： | 2022-07-15 |
| 公开（公告）号： | CN115356809A | 公开（公告）日： | 2022-11-18 |
| 发明（设计）人： | 易佳朋;刘建辉;黄辉;王华茂;刘颖青 | 申请（专利权）人： | 深圳中科精工科技有限公司 |
| 主分类号： | G02B6/42 | 分类号： | G02B6/42;G01M11/00 |
| 代理公司： | 深圳市凯博企服专利代理事务所(特殊普通合伙) 44482 | 代理人： | 旷春娇 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙华区观湖街道*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了光学耦合设备及其胶形检测方法，包括光学耦合器底座壳体和光学耦合器上盖壳体，光学耦合器底座壳体的两侧均开设有搭接槽，搭接槽上设置有光纤末端，光学耦合器底座壳体的中部设置有光学耦合器主体，光学耦合器上盖壳体的底部设置有对接框，光学耦合器底座壳体的两侧位于搭接槽的开口处设置有搭接定位座；本发明通过光学耦合器底座壳体和光学耦合器上盖壳体之间对接，固定组件实现快速对光学耦合器底座壳体和光学耦合器上盖壳体之间进行封装，同时卡接定位组件不仅实现对光纤末端进行定位固定，防止光纤末端件与光电元件之间松动，而且加强了光纤末端与光学耦合器之间连接的密封性，便于拆卸而解决光学耦合器故障具体的原因。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 耦合 设备 及其 检测 方法 | ||
【主权项】：
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