[发明专利]监测可开关的半导体器件的方法和半导体器件的监测设备在审
| 申请号： | 202210824977.X | 申请日： | 2022-07-13 |
| 公开（公告）号： | CN115684858A | 公开（公告）日： | 2023-02-03 |
| 发明（设计）人： | 托马斯·拉泼德;米夏埃尔·沃尔特贝格 | 申请（专利权）人： | 利萨·德雷克塞迈尔有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;H03K17/08;H02H9/00;H02M1/34 |
| 代理公司： | 北京卓孚律师事务所 11821 | 代理人： | 任宇;熊雪梅 |
| 地址： | 德国菲*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于监测可开关的半导体器件(Q1)的方法，所述半导体器件具有与其并联的保护电路(124)，其中，拾取在半导体器件(Q1)和保护电路(124)上施加的电气参数(114)，当电气参数(114)大于预先已知的临界值(116)时，辨识出半导体器件(Q1)和/或保护电路(124)的损坏。 | ||
| 搜索关键词： | 监测 开关 半导体器件 方法 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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