[发明专利]一种芯片的自适应测试的方法、系统、装置及存储介质在审
| 申请号： | 202210823754.1 | 申请日： | 2022-07-14 |
| 公开（公告）号： | CN115344441A | 公开（公告）日： | 2022-11-15 |
| 发明（设计）人： | 陈冬兵 | 申请（专利权）人： | 苏州欣华锐电子有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F16/25 |
| 代理公司： | 苏州国诚专利代理有限公司 32293 | 代理人： | 陈松 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州市工*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种芯片的自适应测试的方法、系统、装置及存储介质，其可以自动适配不同的芯片，且可以实现针对待测芯片的性能参数，调整测试程序的参数，减少测试的成本，提升测试效率，方法包括以下步骤：建立数据库，所述数据库中存储有历史检测的芯片数据；获取待测试的芯片的已知特征，从数据库匹配得到待测试的芯片的特征参数；根据匹配结果，推送与芯片对应的测试程序；采用测试程序进行芯片测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 自适应 测试 方法 系统 装置 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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