[发明专利]三维可控多点约束状态的颗粒接触力测量装置在审
| 申请号： | 202210808282.2 | 申请日： | 2022-07-07 |
| 公开（公告）号： | CN115165569A | 公开（公告）日： | 2022-10-11 |
| 发明（设计）人： | 王斌;王頔;景唤 | 申请（专利权）人： | 中国科学院武汉岩土力学研究所;长江水利委员会长江科学院 |
| 主分类号： | G01N3/08 | 分类号： | G01N3/08;G01N3/04;G01N3/06 |
| 代理公司： | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人： | 何秋石 |
| 地址： | 430000 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开一种三维可控多点约束状态的颗粒接触力测量装置，包括约束底座、至少两个约束件以及至少两个测量传感器，约束底座上形成有槽口朝上的容置槽，容置槽用以供颗粒容置，容置槽的内壁开设有多个安装孔，多个安装孔沿容置槽的内壁面的法线方向延伸，至少两个约束件对应分设于多个安装孔的其中任意至少两个，每一约束件具有用以与颗粒的表面接触的约束部，至少两个测量传感器用以检测约束部与颗粒的表面之间的接触力。本发明提供的颗粒接触力测量装置，能够实现对不同颗粒的多点约束状态模拟，三维空间内多点约束灵活可控；可以适应球形、棒状或扁圆形等任意形状颗粒；并且，接触力的测量不依赖其他颗粒进行测算，接触力测量准确。 | ||
| 搜索关键词： | 三维 可控 多点 约束 状态 颗粒 接触 测量 装置 | ||
【主权项】：
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