[发明专利]一种芯片屏蔽罩平面度自动化检测系统在审
| 申请号： | 202210776974.3 | 申请日： | 2022-07-04 |
| 公开（公告）号： | CN115055390A | 公开（公告）日： | 2022-09-16 |
| 发明（设计）人： | 利红平;臧泽鹏;胡华亮;刘泽明;利志威 | 申请（专利权）人： | 苏州汉特士视觉科技有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/02 | 分类号： | B07C5/02;B07C5/34;B07C5/10;B07C5/36 |
| 代理公司： | 苏州企知鹰知识产权代理事务所(普通合伙) 32420 | 代理人： | 薛芳芳 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州市吴中*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种芯片屏蔽罩平面度自动化检测系统，包括：机架；承载于所述机架用于屏蔽罩送料的输送机构；承载于所述机架用于检测屏蔽罩对称性的对称机构；承载于所述机架用于检测屏蔽罩平面度是否合格的检测机构；设置于所述机架用于对平面度合格的屏蔽罩进行覆膜的覆膜机构；设置于所述机架用于对合格的屏蔽罩进行收料的收料机构；以及设置于所述机架用于将屏蔽罩从翻转机构驱动移动至对称机构和检测机构、并继续驱动移动至废料槽、覆膜机构或者收料机构的移送机构。通过上述设置，使得系统具有能够自动化对屏蔽罩进行收料、并且能够通过托盘或者料带进行收料、一体化高和效率高的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 屏蔽 平面 自动化 检测 系统 | ||
【主权项】：
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