[发明专利]一种LED多针测试机通道亮度差异的修正方法在审
申请号: | 202210771714.7 | 申请日: | 2022-06-30 |
公开(公告)号: | CN115096555A | 公开(公告)日: | 2022-09-23 |
发明(设计)人: | 彭超;李超;陈艳恒 | 申请(专利权)人: | 湘能华磊光电股份有限公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 长沙七源专利代理事务所(普通合伙) 43214 | 代理人: | 蔡实艳;周晓艳 |
地址: | 423038 湖*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | 本发明提供了一种LED多针测试机通道亮度差异的修正方法,包括步骤S1、构建二维坐标系;步骤S2、确定晶粒单元;步骤S3、测试晶粒亮度;步骤S4、修正晶粒亮度,具体的,采用修正系数K修正每个晶粒单元中的晶粒通道亮度差异。本发明能够使得LED外延片亮度呈周期性交替的行间隔变化的MAP分布被修正为自然过渡的MAP,符合外延片的生长特性,确保了最终测试结果的准确性,从而解决多针测试机存在多针亮度通道差异常的问题,避免出现多通道亮度偏差的情况。 | ||
搜索关键词: | 一种 led 测试 通道 亮度 差异 修正 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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