[发明专利]芯片检测方法、装置、设备及存储介质在审
| 申请号： | 202210769960.9 | 申请日： | 2022-07-01 |
| 公开（公告）号： | CN114994512A | 公开（公告）日： | 2022-09-02 |
| 发明（设计）人： | 金煜昊;李绍瑜;吕后阳 | 申请（专利权）人： | 浙江地芯引力科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京辰权知识产权代理有限公司 11619 | 代理人： | 王卫丽 |
| 地址： | 311215 浙江省杭州市萧*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本申请提出一种芯片检测方法、装置、设备及存储介质，该芯片检测方法，包括：获取待测芯片进行数据通讯时，传输比特0数据的第一低电平时长和第一高电平时长，以及传输比特1数据的第二低电平时长和第二高电平时长；确定第一低电平时长、第一高电平时长、第二低电平时长、第二高电平时长及四者之间的关系，是否满足预设条件；预设条件根据预设基准芯片的性能参数进行设定；若是，则确定待测芯片满足预设基准芯片的性能参数；若否，则确定待测芯片不满足预设基准芯片的性能参数。本申请能够大大提高区分检测的准确性，减少传统方法造成的误判和漏判现象。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 检测 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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