[发明专利]一种测量等离子体分布参数的方法、系统及装置在审
| 申请号： | 202210752272.1 | 申请日： | 2022-06-29 |
| 公开（公告）号： | CN115113032A | 公开（公告）日： | 2022-09-27 |
| 发明（设计）人： | 邓云坤;蒋仕;陈立;石桓通;李兴文;彭晶;赵现平;王科;张枭;李桥安;张鹏成;李东;杨伟荣 | 申请（专利权）人： | 云南电网有限责任公司电力科学研究院 |
| 主分类号： | G01R31/327 | 分类号： | G01R31/327;G01D21/02 |
| 代理公司： | 深圳中细软知识产权代理有限公司 44528 | 代理人： | 田丽丽 |
| 地址： | 650000 云南省昆*** | 国省代码： | 云南;53 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种测量等离子体分布参数的方法、系统及装置，本发明提供的技术方案，通过获取断路器电弧等离子体产生的具有绝对强度信息的辐射光谱，之后根据所述辐射光谱中的光谱铜谱线，利用自蚀数据处理算法，得出等离子体密度分布参数与温度分布参数。本发明提供的技术方案，能够准确获得铜电极断路器电弧对电极烧蚀过程中的等离子体密度、温度参数分布，进而明确铜电极断路器电弧对电极烧蚀的影响。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 等离子体 分布 参数 方法 系统 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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