[发明专利]旁瓣光束衍射反演的远场焦斑测量旁瓣波峰参数检测方法在审
| 申请号： | 202210725804.2 | 申请日： | 2022-06-23 |
| 公开（公告）号： | CN115204217A | 公开（公告）日： | 2022-10-18 |
| 发明（设计）人： | 王拯洲;段亚轩;王力;魏际同;郭嘉富 | 申请（专利权）人： | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G06K9/00 | 分类号： | G06K9/00;G06T5/00;G06T5/20;G06T7/11 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 徐秦中 |
| 地址： | 710119 陕西省西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明为解决目前基于旁瓣光束衍射反演的纹影法强激光远场焦斑测量时，经过衍射反演获得了旁瓣光束的分布图像，但不能实现对旁瓣光束任意方向上各个旁瓣波峰参数的有效检测的问题，而提供了一种旁瓣光束衍射反演的远场焦斑测量旁瓣波峰参数检测方法。本发明采用逆向推演间接测量，沿光路传播逆方向推导，以旁瓣光束衍射光强图像和相位图像作为输入，通过计算获得未遮挡前旁瓣光束远场焦斑分布，对旁瓣光束图像按照选定的角度采样间隔进行量化，使用角度变换将二维旁瓣光束图像转化为全方向的一维旁瓣光束曲线集合，检测每个角度一维旁瓣光束曲线的各个旁瓣波峰参数，从而获得旁瓣光束任意方向各个旁瓣的参数。 | ||
| 搜索关键词： | 光束 衍射 反演 远场焦斑 测量 波峰 参数 检测 方法 | ||
【主权项】：
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