[发明专利]一种基于多子带融合处理的电离层空变TEC测量方法在审
| 申请号： | 202210722315.1 | 申请日： | 2022-06-24 |
| 公开（公告）号： | CN115061137A | 公开（公告）日： | 2022-09-16 |
| 发明（设计）人： | 郭威;高新成;李小平;沈方芳 | 申请（专利权）人： | 西安电子科技大学 |
| 主分类号： | G01S13/90 | 分类号： | G01S13/90;G01S13/95 |
| 代理公司： | 西安智大知识产权代理事务所 61215 | 代理人： | 贺建斌 |
| 地址： | 710071*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 一种基于多子带融合处理的电离层空变TEC测量方法，先进行距离向快速傅里叶变换，再计算距离向带宽采样点数，然后计算距离向频谱子带数据带宽采样点数，再沿距离向频谱分割处理，计算各极化通道频谱子带数据矩阵；然后进行距离向快速逆傅里叶变换；再估计各子带图像所含法拉第旋转角；最后获取空变TEC测量结果；本发明利用长波长全极化星载SAR对电离层效应误差敏感性高的特点，通过频域多子带法拉第旋转角估计及融合处理，能够实现全球范围内电离层空变TEC精确测量，其测量精度优于0.003TECU，分辨率优于70m。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 多子带 融合 处理 电离层 tec 测量方法 | ||
【主权项】：
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