[发明专利]一种芯片测试装置在审
| 申请号： | 202210704068.2 | 申请日： | 2022-06-21 |
| 公开（公告）号： | CN114879018A | 公开（公告）日： | 2022-08-09 |
| 发明（设计）人： | 顾培东;张彤 | 申请（专利权）人： | 上海捷策创电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/02;B08B1/00 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 薛学娜 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新区中国（上海）自*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明属于芯片测试技术领域，公开了一种芯片测试装置。该芯片测试装置包括测试座、压盖、压头机构和清洁机构，测试座具有卡固槽，卡固槽用于安装被测试芯片；压盖与测试座转动连接；压头机构转动设于压盖上，压头机构能抵接于被测试芯片的顶面，转动压头机构，压头机构能挤压被测试芯片，以使测试座上的探针刺破被测试芯片上的锡球；清洁机构设于测试座上，清洁机构能对探针进行清洁处理。本发明提供的芯片测试装置，通过设置清洁机构，清洁机构对探针进行清洁处理，防止过多的锡渣粘连到探针上，使探针的阻抗过大，提高了测试稳定性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 装置 | ||
【主权项】：
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