[发明专利]一种测量材料非线性光学性质的系统及方法在审
| 申请号： | 202210698151.3 | 申请日： | 2022-06-20 |
| 公开（公告）号： | CN115128002A | 公开（公告）日： | 2022-09-30 |
| 发明（设计）人： | 王俊;王梓鑫;陈晨端;董宁宁 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01;G01N21/84 |
| 代理公司： | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人： | 张宁展 |
| 地址： | 201800 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种测量材料非线性光学性质的系统及方法，其中，测量方法是将Z扫描技术和共焦显微成像集成在一起，采用显微物镜进行激发光聚焦、信号光收集、样品表面形貌成像以及光斑同步成像，实现光斑大小的实时监测；使用三维精密平移台控制样品位置，可以实现对微米级样品非线性光学性质的测量。本发明方法可以同步测量材料非线性吸收和非线性折射数据，同时适用于均匀和非均匀、宏观和微观样品的测量，解决了非均匀不规则小尺寸样品非线性性质测试难题，扩展了Z扫描技术的应用及测试范围。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 材料 非线性 光学 性质 系统 方法 | ||
【主权项】：
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