[发明专利]一种光束光斑位移放大测量系统及测量方法在审
申请号: | 202210673757.1 | 申请日: | 2022-06-14 |
公开(公告)号: | CN115077392A | 公开(公告)日: | 2022-09-20 |
发明(设计)人: | 翟玉生;赵一恒;蒋留杰;张志峰;耿利杰;张瑞亮;杨坤 | 申请(专利权)人: | 郑州轻工业大学 |
主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02 |
代理公司: | 郑州优盾知识产权代理有限公司 41125 | 代理人: | 栗改 |
地址: | 450000 河南省郑州*** | 国省代码: | 河南;41 |
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摘要: |
本发明提出了一种光束光斑位移放大测量系统及测量方法,聚焦的待测光束被放置在聚焦焦点附近的光阑部分遮挡;被光阑部分遮挡的待测光束入射到位置敏感光电探测器的感光面上,形成缺损光斑;待测光束若发生空间位置变化导致光阑遮挡处的光束光斑产生与被遮挡方向平行的位移 |
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搜索关键词: | 一种 光束 光斑 位移 放大 测量 系统 测量方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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