[发明专利]一种集成电路芯片外观检测机在审
| 申请号： | 202210668783.5 | 申请日： | 2022-06-14 |
| 公开（公告）号： | CN115015287A | 公开（公告）日： | 2022-09-06 |
| 发明（设计）人： | 周云波 | 申请（专利权）人： | 周云波 |
| 主分类号： | G01N21/95 | 分类号： | G01N21/95;G01N21/01;G01N21/13;B08B1/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 312000 浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种集成电路芯片外观检测机，其结构包括机体、支架、输送台、摄像头，由于芯片在输送带上移动产生震动力而滑动，出现芯片贴在输送台的台体内壁，导致胶水反粘在台体的内壁，通过在台体内顶部设有推动机构，通过推动机构的推板对芯片夹持限位，减少芯片贴在台体内壁，并且通过活动球将芯片外壁的胶水清除，减少出现胶水固化在台体内壁的现象，保持台体的内壁间距不变，减少芯片卡在输送台中，有利于芯片正常输送检测，由于芯片外壁部分胶水滴落在输送带表面，通过在输送带下方设有清除机构，通过清除机构中的清除块与输送带外壁接触，刷环将输送带外壁的胶水清除，能减少胶水固化在输送带外壁，有利于芯片正常随着输送带移动。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 芯片 外观 检测 | ||
【主权项】：
暂无信息
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