[发明专利]一种特征初始化的非均匀校正方法及其系统在审
| 申请号： | 202210650466.0 | 申请日： | 2022-06-10 |
| 公开（公告）号： | CN114913096A | 公开（公告）日： | 2022-08-16 |
| 发明（设计）人： | 吕宝林;孙海江;田大鹏;徐伟;王昱棠;刘巧元 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G06T5/00 | 分类号： | G06T5/00;G06T7/20;G06T7/33;G06T7/35 |
| 代理公司： | 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316 | 代理人： | 孟洁 |
| 地址： | 130033 吉林省长春*** | 国省代码： | 吉林;22 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及机载光电成像，特别涉及一种特征初始化的非均匀校正方法及其系统；本发明通过收集探测数据信息，采用基于图像邻近像元的统计特征的初始化非均匀校正增益系数初值同时进行预处理，得到红外图像的运动像素值，再进行计算得到两帧红外图像间的两维平移关系，再进行判定，判定为有效图像，再根据初始校正增益系数矩阵对有效图像的校正参数进行更新，将校正参数实时输出，得到校正后的图像再输出；本发明可以更加快速、准确地获取校正系数且在校正过程中没有鬼像或尾像。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 特征 初始化 均匀 校正 方法 及其 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所，未经中国科学院长春光学精密机械与物理研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202210650466.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种齿圈铸造用脱膜装置
- 下一篇：一种分布式光伏电站远程在线智能监测平台
