[发明专利]一种单晶硅熔炉晶体生长直径预测方法在审

专利信息
申请号: 202210644790.1 申请日: 2022-06-08
公开(公告)号: CN114836823A 公开(公告)日: 2022-08-02
发明(设计)人: 逯占文;王学卫;张靖;邢治国;文皓;陈一凡 申请(专利权)人: 连城凯克斯科技有限公司
主分类号: C30B15/20 分类号: C30B15/20;C30B29/06;G05B13/04
代理公司: 无锡亿联盛知识产权代理有限公司 32625 代理人: 李晶晶
地址: 214000 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明是一种单晶硅熔炉晶体生长直径预测方法,其基于PSO优化的KNN算法。本发明的优点:针对单晶硅生长过程中直径控制问题,利用了大量不同熔融炉的历史生长数据,并将不同生长阶段划分为不同数据集。为了消除不同数据类型数值差异过大对权重的影响,采用正态归一化方法进行数据增强。输入KNN回归模型优化加权权重。训练结束后,应用阶段可以将晶体生长数据输入回归模型,给出历史相似参数下的生长直径,并预测下一时刻晶体生长直径。利用PSO优化的带权重KNN回归计算模型,实现了晶体生长直径预测功能;对于优化晶体生长直径控制算法、减小直径波动和提高硅晶体质量具有重要意义。
搜索关键词: 一种 单晶硅 熔炉 晶体生长 直径 预测 方法
【主权项】:
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