[发明专利]一种单晶硅熔炉晶体生长直径预测方法在审

专利信息
申请号: 202210644790.1 申请日: 2022-06-08
公开(公告)号: CN114836823A 公开(公告)日: 2022-08-02
发明(设计)人: 逯占文;王学卫;张靖;邢治国;文皓;陈一凡 申请(专利权)人: 连城凯克斯科技有限公司
主分类号: C30B15/20 分类号: C30B15/20;C30B29/06;G05B13/04
代理公司: 无锡亿联盛知识产权代理有限公司 32625 代理人: 李晶晶
地址: 214000 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 单晶硅 熔炉 晶体生长 直径 预测 方法
【说明书】:

发明是一种单晶硅熔炉晶体生长直径预测方法,其基于PSO优化的KNN算法。本发明的优点:针对单晶硅生长过程中直径控制问题,利用了大量不同熔融炉的历史生长数据,并将不同生长阶段划分为不同数据集。为了消除不同数据类型数值差异过大对权重的影响,采用正态归一化方法进行数据增强。输入KNN回归模型优化加权权重。训练结束后,应用阶段可以将晶体生长数据输入回归模型,给出历史相似参数下的生长直径,并预测下一时刻晶体生长直径。利用PSO优化的带权重KNN回归计算模型,实现了晶体生长直径预测功能;对于优化晶体生长直径控制算法、减小直径波动和提高硅晶体质量具有重要意义。

技术领域

本发明涉及的是一种单晶硅熔炉生长直径预测方法,具体涉及一种粒子群优化带权重的k-最邻近算法和基于该算法的单晶硅熔炉中晶体生长直径的预测方法,属于预测算法和硅晶体生产技术领域。

背景技术

单晶硅棒是生产单晶硅片的重要原材料,随着国内和国际市场对单晶硅片需求量的快速增加,单晶硅棒的市场需求也呈快速增长的趋势。

单晶硅按晶体生长方法的不同,分为直拉法(CZ)、区熔法(FZ)和外延法。由于成本和性能的原因,直拉法单晶硅材料应用最广。

直拉法即切克劳斯基法(Czochralski:Cz),基本原理和基本过程如下:

1.引晶:通过电阻加热,将装在石英坩埚中的多晶硅熔化,并保持略高于硅熔点的温度,将籽晶浸入熔体,然后以一定速度向上提拉籽晶并同时旋转引出晶体;

2.缩颈:生长一定长度的缩小的细长颈的晶体,以防止籽晶中的位错延伸到晶体中;

3.放肩:将晶体控制到所需直径;

4.等径生长:根据熔体和单晶炉情况,控制晶体等径生长到所需长度;

5.收尾:直径逐渐缩小,离开熔体;

6.降温:降级温度,取出晶体,待后续加工。

其中,放肩和等径生长阶段需要通过控制液面温度、晶体转速、坩埚转速以达到控制晶体生长直径的目的。现有技术中一般采用的控制技术为PID自动控制,生长晶体过程仍然存在直径波动。

发明内容

本发明提出的是一种单晶硅熔炉晶体生长直径预测方法,其目的旨在克服现有技术存在的上述缺陷,实现根据当前控制参数和状态预测下一时刻的晶体直径,用于改进控制算法,减小晶体生长时的直径波动。

本发明的技术解决方案:一种PSO优化的KNN算法,即一种采用粒子群优化带权重的k-最邻近算法,包括根据当前的控制参数和状态,查找历史数据中与当前最相似的K个点,对历史数据中的这K个点求加权平均,对于最佳权重的求取,采用粒子群算法进行优化。

优选的,所述的粒子群算法中,粒子具有速度和位置两个属性,每一个粒子的位置表示为每一个粒子经历过的最好位置记为也称为pbest,在群体所有粒子经历过的最好位置的索引号用符号g表示,即Pg,也称为gbest;PSO初始化N个粒子,位置随机,通过迭代找到最优解;在每一次的迭代中,粒子通过跟踪两个极值(pbest,gbest)来更新自己;在找到这两个最优值后,粒子通过下列公式更新自己的速度和位置:

其中w为惯性权重,c1和c2为加速常数,rand()和Rand()为两个在[0,1]范围内变化的随机值;

粒子的速度Vi被一个最大速度Vmax所限制;如果当前对粒子的加速导致其在某维的速度vdi超过该维的最大速度Vdmax,则该维的速度被限制为该维最大速度Vdmax

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