[发明专利]一种数据校验的验证方法、相关设备和存储介质有效
| 申请号： | 202210595634.0 | 申请日： | 2022-05-30 |
| 公开（公告）号： | CN114676011B | 公开（公告）日： | 2022-08-12 |
| 发明（设计）人： | 王晶 | 申请（专利权）人： | 芯耀辉科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/26 | 分类号： | G06F11/26;G06F11/10 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 陈舟苗 |
| 地址： | 519000 广东省珠海市横琴新区环*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种数据校验的验证方法、相关设备和存储介质，其中方法包括：获取与待验证的设计DUT对应的第一事务包集合；将所述第一事务包集合输入至所述参考模型处理后，输出第二事务包集合；将所述第一事务包集合输入至所述DUT，利用所述插错组件对所述第一事务包集合插入错误数据，并通过所述DUT进行错误检测和修正校验，并对有错误数据的事务包进行标记，输出第三事务包集合；当所述插错组件对所述第一事务包集合中的任一个事务包插入大于或等于2bit错误数据时，对所述第二事务包集合和所述第三事务包集合中所述一个或多个不带有标记的事务包进行第一对比。本申请可以扩大验证范围，降低芯片验证的成本，提高验证方案通用性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 数据 校验 验证 方法 相关 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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