[发明专利]自由空间终端短路法高温高压下介电性能测试系统及方法在审

专利信息
申请号: 202210591834.9 申请日: 2022-05-27
公开(公告)号: CN114994414A 公开(公告)日: 2022-09-02
发明(设计)人: 高勇;蔡林宏;李恩;朱辉;郑虎;龙嘉威;张云鹏;高冲;余承勇;谢茂春;何骁;李兴兴 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: G01R27/26 分类号: G01R27/26
代理公司: 电子科技大学专利中心 51203 代理人: 曾磊
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明的目的在于提供一种自由空间终端短路法高温高压下介电性能测试系统及方法,属于微波测试技术领域。该发明创新地设计了一套新的自由空间终端短路测试系统,同时设计了电磁参数提取算法,能够实现宽频带下对微波材料高温高压联合作用下电磁参数的提取。本发明测试系统能够实现室温~1000℃,压力为0~12.5kPa联合作用下的测试,具有自动化高、测试频带宽、检测方式简便、准确率高等优点。
搜索关键词: 自由空间 终端 短路 高温 压下 性能 测试 系统 方法
【主权项】:
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