[发明专利]一种材料介电谱快速分析的方法在审
申请号: | 202210580972.7 | 申请日: | 2022-05-25 |
公开(公告)号: | CN114966226A | 公开(公告)日: | 2022-08-30 |
发明(设计)人: | 施一公;卢滢先;汤夏平;赵艳雨 | 申请(专利权)人: | 清华大学;西湖大学 |
主分类号: | G01R27/26 | 分类号: | G01R27/26 |
代理公司: | 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 | 代理人: | 张建纲 |
地址: | 100084*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及一种介电谱分析方法,用于对待测材料的介电谱进行分析,该介电谱分析方法包括下列步骤:测量待测样品的直流电导率和介电谱,其中,所述待测样品中包含待测材料组分;确定与待测样品具有相同直流电导率的基准样品的介电谱,其中,所述基准样品中不包含待测材料组分,对任一相同频段总是采用与测量待测样品的介电谱时相同的测量系统测量所述基准样品的介电谱;在整个频谱上,用基准样品的介电谱的实部对待测样品的介电谱的实部进行归一化,绘制出介电谱的实部归一化曲线;用基准样品的介电谱的虚部对待测样品的介电谱的虚部进行归一化,绘制介电谱虚部归一化曲线。 | ||
搜索关键词: | 一种 材料 介电谱 快速 分析 方法 | ||
【主权项】:
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