[发明专利]基于可见光的电子设备测试方法、系统、设备及存储介质在审
| 申请号： | 202210547654.0 | 申请日： | 2022-05-19 |
| 公开（公告）号： | CN115314702A | 公开（公告）日： | 2022-11-08 |
| 发明（设计）人： | 张伟;涂志雄;胡传辉 | 申请（专利权）人： | 深圳创维-RGB电子有限公司 |
| 主分类号： | H04N17/00 | 分类号： | H04N17/00;H04N17/04;H04B10/116 |
| 代理公司： | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人： | 林川靖 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市南山区粤海*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于可见光的电子设备测试方法、系统、设备及计算机可读存储介质，属于测试技术领域。本发明通过获取测试指令信息，根据所述测试指令信息生成第一可见光信号；将所述第一可见光信号发送至所述电子设备，以将所述测试指令信息发送至所述电子设备；接收所述电子设备返回的第二可见光信号，获取所述第二可见光信号中所述电子设备的响应指令信息；根据所述响应指令信息获取所述电子设备的测试结果。本发明解决了现有测试方法成本较高，无法适用于自动化测试与无人产线场景的问题，实现了降低成本，方便、快速的进行设备测试的技术效果。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 可见光 电子设备 测试 方法 系统 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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