[发明专利]基于可见光的电子设备测试方法、系统、设备及存储介质

权利要求书

1.一种基于可见光的电子设备测试方法，其特征在于，所述方法应用于对电子设备进行测试的测试终端，所述方法包括以下步骤：

获取测试指令信息，根据所述测试指令信息生成第一可见光信号；

将所述第一可见光信号发送至所述电子设备，以将所述测试指令信息发送至所述电子设备；

接收所述电子设备返回的第二可见光信号，获取所述第二可见光信号中所述电子设备的响应指令信息；

根据所述响应指令信息获取所述电子设备的测试结果。

2.如权利要求1所述的基于可见光的电子设备测试方法，其特征在于，所述测试终端包括第一光学模组，所述根据所述测试指令信息生成第一可见光信号的步骤，包括：

获取所述测试指令信息对应的测试指令数据，根据所述测试指令数据生成第一电平信号；

将所述第一电平信号发送至所述第一光学模组，通过所述第一光学模组将所述第一电平信号转换为所述第一可见光信号。

3.如权利要求2所述的基于可见光的电子设备测试方法，其特征在于，所述测试终端还包括第一控制模块和第一存储模块，其中，所述第一控制模块包括第一通信端口和第二通信端口，所述第一通信端口的波特率高于所述第二通信端口的波特率；

所述将所述第一电平信号发送至所述第一光学模组的步骤，包括：

通过所述第一通信端口获取所述第一电平信号，以将所述测试指令数据发送至所述第一存储模块；

通过所述第二通信端口从所述第一存储模块中读取所述测试指令数据，以将所述第一电平信号发送至所述第一光学模组。

4.如权利要求2所述的基于可见光的电子设备测试方法，其特征在于，所述第一光学模组包括感光模块，所述接收所述电子设备返回的第二可见光信号，获取所述第二可见光信号中所述电子设备的响应指令信息的步骤，具体包括：

通过所述感光模块接收所述第二可见光信号，以生成所述第二可见光信号对应的响应指令数据；

解析所述响应指令数据以获取所述第二可见光信号中所述电子设备的所述响应指令信息。

5.一种基于可见光的电子设备测试方法，其特征在于，所述方法应用于电子设备，所述方法包括以下步骤：

接收对所述电子设备进行测试的测试终端发送的第一可见光信号，获取所述第一可见光信号中的测试指令信息；

根据所述测试指令信息生成第二可见光信号；

将所述第二可见光信号发送至所述测试终端，以供所述测试终端获取测试结果。

6.如权利要求5所述的基于可见光的电子设备测试方法，其特征在于，所述电子设备包括第二光学模组，所述根据所述测试指令信息生成第二可见光信号的步骤，包括：

根据所述测试指令信息生成对应的响应指令信息，获取所述响应指令信息对应的响应指令数据；

根据所述响应指令数据生成第二电平信号；

将所述第二电平信号发送至所述第二光学模组，通过所述第二光学模组将所述第二电平信号转换为所述第二可见光信号。

7.如权利要求6所述的基于可见光的电子设备测试方法，其特征在于，所述电子设备还包括第二控制模块和第二存储模块，其中，所述第二控制模块包括第三通信端口和第四通信端口，所述第三通信端口的波特率高于所述第四通信端口的波特率；

所述将所述第二电平信号发送至所述第二光学模组的步骤，包括：

通过所述第三通信端口获取所述第二电平信号，以将所述测试指令数据发送至所述第二存储模块；

通过所述第四通信端口从所述第二存储模块中读取所述测试指令数据，以将所述第二电平信号发送至所述第二光学模组。