[发明专利]检测机构及相应的IC芯片检测装置在审
| 申请号： | 202210541448.9 | 申请日： | 2020-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN114950991A | 公开（公告）日： | 2022-08-30 |
| 发明（设计）人： | 刘世洪 | 申请（专利权）人： | 深圳市华力宇电子科技有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/02 | 分类号： | B07C5/02;B07C5/36;B07C5/38;B07C5/34 |
| 代理公司： | 深圳市宏德雨知识产权代理事务所(普通合伙) 44526 | 代理人： | 李捷 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安区航城街道*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本分案申请提供一种检测机构及相应的I C芯片检测装置，检测机构设置在斜板上用于对上料机构运输过来的I C芯片进行检测，检测机构包括检测轨道、引脚光源、字符光源、背光源、视觉检测支架、摄像头和检测台，检测轨道设置在斜板上，引脚光源连接字符光源，且位于检测轨道上方，背光源设置在检测轨道下方，字符光源用于检测I C芯片字符时发光，引脚光源和背光源用于检测I C芯片引脚时发光。引脚光源和背光源用于检测I C芯片引脚时发光，摄像头用于摄像检测，检测轨道用于固定I C芯片接受检测，通过拍照检测，提高I C检测装置检测芯片字符及引脚效果，避免漏检错检。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 机构 相应 ic 芯片 装置 | ||
【主权项】：
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