[发明专利]检查待检查数字密钥的有效性的方法在审
申请号: | 202210527829.1 | 申请日: | 2022-05-16 |
公开(公告)号: | CN115378597A | 公开(公告)日: | 2022-11-22 |
发明(设计)人: | F·诺滕施泰纳;P·杜普利斯 | 申请(专利权)人: | 罗伯特·博世有限公司 |
主分类号: | H04L9/32 | 分类号: | H04L9/32;H04L9/00 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 杜荔南;刘春元 |
地址: | 德国斯*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 检查待检查数字密钥的有效性的方法。本发明涉及一种使用微控制器(2)的比特存储元件在所述微控制器中检查待检查数字密钥(x)的有效性的方法,所述比特存储元件的状态可受到电磁干扰的影响,所述方法包括通过将散列函数应用(110)于所述数字密钥(x)来确定密钥散列值(y);将参考散列值(Y)存储(140)在所述比特存储元件中,其中分别将所述参考散列值的比特存储在所述比特存储元件之一中;将所述密钥散列值与所述比特存储元件的存储值(W)进行比较(160),其中如果所述密钥散列值(y)不等于所述存储值(W),则将待检查密钥确定为无效(170)。本发明还涉及一种用于认证的方法和一种微控制器。 | ||
搜索关键词: | 检查 数字 密钥 有效性 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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